Rasterkraftmikroskop n n; RKM n n; AFM n n (1986 von G. Binnig u. H. Rohrer entwickeltes Mikroskop zur mechan. Abtastung von Oberflächen auf der Nanometerskala).
【原子間力顕微鏡】
げんしかんりょく･けんびきょうgenshikanryoku·kenbikyō
Rasterkraftmikroskop n n; RKM n n; AFM n n (1986 von G. Binnig u. H. Rohrer entwickeltes Mikroskop zur mechan. Abtastung von Oberflächen auf der Nanometerskala).