原子間力顕微鏡 げんしかんりょくけんびきょう げんしかんりょく･<けんびきょう>

Rasterkraftmikroskop RKM AFM 1986 von G. Binnig u. H. Rohrer entwickeltes Mikroskop zur mechan. Abtastung von Oberflächen auf der Nanometerskala